総合技術コンサルティング＆人材育成
新規事業・商品企画から研究開発推進、現場の課題解決・改善、そして、、人材育成まで
ジャパン・リラーチ・ラボ（JRL）は、明日の飛躍をお手伝いいたします。
代表的分析手法の原理･特徴
ここでは、一般に使用されることが多い代表的な分析法の特徴や原理、使い方などについて解説しています。より詳しい情報をお知りになりたい時は、メールにてお問い合わせください。
また、解説手法の追加についての御希望がございましたらメールにてご連絡ください。
表面分析 |
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| Ｘ線光電子分光法 （XPS、ESCA) |
オージェ電子分光法 （AES) |
飛行時間型 ２次イオン質量分析 （TOF-SIMS) |
バルク分析 |
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| 蛍光X線分析法 （XRF) |
有機元素分析 | 誘導結合プラズマ 発光分光分析装置 （ICP-AES) |
| ガスクロマトグラフ 質量分析 （GC-MS) |
液体クロマトグラフ 質量分析 （LC-MS) |
ゲル浸透 クロマトグラフ （GPC) |
分光分析 |
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| フーリエ変換赤外分光 （FTIR) |
ラマン分光法 （RAMAN) |
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その他 |
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| 示差走査熱量分析 （DSC) |
走査型電子顕微鏡 （SEM) |
透過型電子顕微鏡 （TEM) |
| 走査型プローブ顕微鏡 （SPM・AFM) |
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