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    表面・界面の考え方と分析の基礎と実践応用セミナー・講習会

     

    表面・界面の基礎的考え方

    必須となる表面・界面の分析評価、解析

    実例を交えた解析事例による解説

      表面、界面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面や界面が関与していないものは無いと言っても過言ではありません。これは言い方を変えると、現代は表面、界面に支配されているとも言えます。そのため、分析手法一つにしても多種多様なものが開発され、利用されています。しかし、一方で表面や、特に界面はまだ未解明な部分も多く、多様な分析方法の選択・活用、そして、表面・界面の姿を明らかにすることは容易ではありません。

    本講では、表面、界面の基礎から、表面分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、実践まで事例を交えて解説します。

    受講者の声

     
    • 中身,構成が素晴らしかった。
    • 表面界面の分析手法を網羅的に解説されていた。
    • メリット、デメリットを含め分かりやすく解説いただけた。
    • これから表面界面分析を始めるに向けて非常に参考になった。
    • 全体を網羅しており、かつ実例も説明して頂いたので、とても為になる講義でした。
    • 相手の質問の意図を汲み取り、的確な回答をしてくださっていたと感じました。

    セミナーのお申し込みはこちら 本セミナーには受講特典がございます。

    JRL主催セミナーはセミナー会社等との共催では含まれない、実施されない

     ・追加の内容、解説
     ・例題や演習等の追加
     ・講義中に実施した演習の回答に対するコメント、アドバイス
     ・お申込みがお1人でも原則として開催(中止による面倒な事務処理が不要)

    が含まれ、より詳細に深く学び、実務での活用を促進することができます。
    また、主催セミナーだけの特別受講特典も利用することが可能です。


     実施日  2023年3月3日 10:30-16:30
     実施方式  Web配信(Zoom)
     受講料  49,500円(税込み、テキスト付)
     ・受付メール送信後のキャンセルは原則不可となりますので、ご都合が悪くなった場合には代理手配等をお願いします(その場合には事前にご連絡ください)。
     講師  ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹
     備考  【ZoomによるLive配信】
     ・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。
     ・お申し込みにあたり、接続確認用URL(https://zoom.us/test)にアクセスして接続できるか等ご確認下さい。
     ・後日、別途受講用のURLをメールにてご連絡申し上げます。
     ・セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご受講ください。
     ・リアルタイムで講師へのご質問も可能です。
     ・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。



    一般的な文系ベースの概念的研修にはない 理論と納得感に基づく論理的人材育成を提供します


    主な対象
    ・研究開発、分析、製造門、品質保証部門など技術部門全般
    ・若手から中堅を中心とした担当者
    ・部署マネジメント、部下を育成・教育する管理者、マネージャー
    など
     
    修得できること
    ・表面分析の基礎
    ・表面分析の考え方と活用法
    ・各種表面分析手法の使い方
    ・表面、界面の可視化法
    ・研究開発、問題解決へのフィードバック
     など

      特徴

    • 表面・界面の基本から改質等の 利用まで解説
    • 表面、界面の取り扱いから可視化の考え方を解説
    • 表面、界面解析に不可欠な様々な分析評価法の解説
    • サンプリングテクニック、注意点の解説
    • 実例を交えて実践テクニック、ノウハウを解説


    主な内容


      【表面に支配される現代社会】
      膜・界面、そして、現代技術を支配する表面
      表面・界面の重要性
      【表面とは】
      表面(薄膜)とは?
      表面のかかわる代表的事象
      表面の要素
      表面における現象
      代表的な表面処理
      【界面とは】
      界面における現象
      多層膜による界面形成
      薄膜化による界面の変化
      【表面・界面を支配するもの 】
      界面形成
      界面形成を支配する接着
      界面を形成する力
      表面・界面形成を支配するもの
      表面・界面形成因子と評価法
      表面を支配するには
      【表面分析成功のキーポイント 】
      【サンプルの取り扱い】
      【代表的表面分析手法】
      【表面分析の分類 】
      表面分析に用いる主な手法と選び方
      表面・微小部の代表的分析手法
      手法の選択
      【接触角測定法】
      【X線光電子分光法(XPS,ESCA)】
      XPSの原理
      XPSの検出深さ
      装置構成例
      XPSの特徴?
      ワイドスキャン(サーベイスキャン)
      ナロースキャン(代表的な元素)
      元素同定
      化学状態の同定
      角度変化測定による深さ方向分析
      チャージアップの影響と対応
      化学状態による違い
      チャージアップへの工夫
      イオンエッチングダメージ
      エッチング条件と効果
      エッチング条件とスパッタレート
      イオンエッチングによるクロスコンタミ
      ちょっと便利なサイトやソフト
      ハイブリッド分析
      【オージェ電子分光法(AES)】
      微小領域の元素分析手法
      AESの原理
      装置構成例
      AES測定例
      界面拡散の分析 1
      AESによる状態分析例
      チャージアップ抑制
      絶縁体上の異物
      化学状態マッピング
      XPSとAESの手法の比較
      【X線マイクロアナライザ(EPMA)】
      EPMAの原理
      元素分布分析(被着体金属基板の断面)
      積層膜の分析例
      【化学構造を知る】
      【フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)】
      赤外分光法(IR)の原理
      FT-IRの長所・短所
      測定法
      周辺環境の影響
      主な吸収帯
      赤外分光の構造敏感性
      指紋領域の利用
      系統解析
      帰属の考え方
      全反射法(ATR法)
      ATR法と検出深さ
      ATR法における注意点
      In-situ FT-IR
      【飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)】
      SIMSの概念
      D-SIMSに用いられる質量分析法
      TOF-SIMS装置の構成
      TOF-SIMSの概要
      TOF-MSの原理
      TOF-SIMSによる化学構造解析
      【グロー放電分析(GD)】
      【形態を知る】
      【SEM、TEM】
      表面形状と組成
      SEM-EDS組成分析
      試験前後の比較
      SEM観察例 
      試料作製法の比較
      【走査型プローブ顕微鏡(SPM)】
      SPMとは
      主な走査型プローブ顕微鏡
      形態観察におけるAFMの位置づけ
      観察例
      位相イメージングの例
      位相像
      【界面分析】
      【界面評価の重要性と課題】
      界面の例
      界面の形成
      界面の分類
      界面における課題
      界面分析の重要性
      一般的深さ方向分析
      従来法と問題点
      化学増幅型レジストのD-SIMS分析
      精密斜め切削法
      斜面角度と深さ方向分解能
      傾斜面の例
      新しいアプローチ
      【解析の実例】
      【UV照射による化学構造の評価】
      【表面構造変化の解析(XPS)】
      【気相化学修飾法】
      【化学修飾法を用いたTOFイメージング】
      【ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析】
      【PI/Cu/Si界面の解析】
      【まとめ】
      質疑

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