新規事業・商品企画から研究開発推進、現場の課題解決・改善、そして、、人材育成まで
ジャパン・リラーチ・ラボ(JRL)は、明日の飛躍をお手伝いいたします。
表面・界面の考え方と分析の基礎と実践応用セミナー・講習会
表面・界面の基礎的考え方 必須となる表面・界面の分析評価、解析 実例を交えた解析事例による解説 |
表面、界面はあらゆる技術や製品の基盤となるものであり、現在扱われる材料やプロセス、技術、商品で表面や界面が関与していないものは無いと言っても過言ではありません。これは言い方を変えると、現代は表面、界面に支配されているとも言えます。そのため、分析手法一つにしても多種多様なものが開発され、利用されています。しかし、一方で表面や界面はまだ未解明な部分も多く、多様な分析方法の選択・活用、そして、表面・界面の姿を明らかにすることは容易ではありません。
本講では、表面、界面の基礎から、表面分析評価を中心にして、その姿を明らかにして利用するためのアプローチについて、技術的テクニック、コツやノウハウから、考え方、実践まで事例を交えて解説します。
受講者の声
|
JRL主催セミナーはセミナー会社等との共催では含まれない、実施されない
・追加の内容、解説
・例題や演習等の追加
・講義中に実施した演習の回答に対するコメント、アドバイス
・お申込みがお1人でも原則として開催(中止による面倒な事務処理が不要)
が含まれ、より詳細に深く学び、実務での活用を促進することができます。
また、主催セミナーだけの特別受講特典も利用することが可能です。
実施日 | 2023年3月3日 10:30-16:30 |
実施方式 | Web配信(Zoom) |
受講料 | 税抜き49800円(税込み54780円)、テキスト付 |
講師 | ジャパン・リサーチ・ラボ 代表 博士(工学) 奥村 治樹 |
備考 | 【ZoomによるLive配信】 ・本セミナーはビデオ会議ツール「Zoom」を使ったライブ配信セミナーとなります。 ・お申し込みにあたり、接続確認用URL(https://zoom.us/test)にアクセスして接続できるか等ご確認下さい。 ・後日、別途受講用のURLをメールにてご連絡申し上げます。 ・セミナー開催日時に、視聴サイトにログインしていただき、ご受講ください。 ・リアルタイムで講師へのご質問も可能です。 ・タブレットやスマートフォンでも視聴できます。 |
|
|
特徴
|
主な内容
【表面に支配される現代社会】 イントロダクションとして様々な製品や技術と表面、海面の関係について整理します。 ・膜・界面、そして、現代技術を支配する表面 ・表面・界面の重要性 【表面とは】 表面という言葉の定義(どこまでの領域なのか)など実は日常的に取り扱っていながら良く理解できていない表面について改めて解説します。 ・表面(薄膜)とは? ・表面のかかわる代表的事象 ・表面の要素 ・表面における現象 ・代表的な表面処理 など 【界面とは】 表面と同様に改めてその定義や成り立ちを含めて解説します。 ・界面における現象 ・多層膜による界面形成 ・薄膜化による界面の変化 など 【表面・界面を支配するもの 】 表面・界面を知るのはこれを制御するためであることから、表面・界面を決定づける要素、要因について解説します。 ・界面形成 ・界面形成を支配する接着 ・界面を形成する力 ・表面・界面形成を支配するもの ・表面・界面形成因子と評価法 ・表面を支配するには など 【表面分析成功のキーポイント 】 表面・界面を知るために欠かすことができない表面分析を正しく行うための注意点、ポイント、ノウハウを解説します。 【サンプルの取り扱い】 特に慎重な取り扱いが要求される表面・界面分析用試料の取り扱いにおける注意点、ポイント、ノウハウを解説します。 【代表的表面分析手法】 数多くある表面分析手法について、個々にその原理、特徴、分析・解析のポイントなどに解説します。 【表面分析の分類 】 多種多様な表面・界面分析手法について、その特徴や用途などによって分類すると共に、手法選択の考え方について解説します。 ・表面分析に用いる主な手法と選び方 ・表面・微小部の代表的分析手法 ・手法の選択 など 【接触角測定法】 【X線光電子分光法(XPS,ESCA)】 ・XPSの原理 ・XPSの検出深さ ・装置構成例 ・XPSの特徴? ・ワイドスキャン(サーベイスキャン) ・ナロースキャン(代表的な元素) ・元素同定 ・化学状態の同定 ・角度変化測定による深さ方向分析 ・チャージアップの影響と対応 ・化学状態による違い ・チャージアップへの工夫 ・イオンエッチングダメージ ・エッチング条件と効果 ・エッチング条件とスパッタレート ・イオンエッチングによるクロスコンタミ ・ちょっと便利なサイトやソフト ・ハイブリッド分析 【オージェ電子分光法(AES)】 ・微小領域の元素分析手法 ・AESの原理 ・装置構成例 ・AES測定例 ・界面拡散の分析 1 ・AESによる状態分析例 ・チャージアップ抑制 ・絶縁体上の異物 ・化学状態マッピング ・XPSとAESの手法の比較 【X線マイクロアナライザ(EPMA)】 ・EPMAの原理 ・元素分布分析(被着体金属基板の断面) ・積層膜の分析例 【二次イオン質量分析法(SIMS)】 ・SIMSの概念 ・D-SIMSに用いられる質量分析法 ・D-SIMS測定例と特徴 ・TOF-SIMS装置の構成 ・TOF-SIMSの概要 ・TOF-MSの原理 ・TOF-SIMSによる化学構造解析 【フーリエ変換赤外分光法(FT-IR)】 ・赤外分光法(IR)の原理 ・FT-IRの長所・短所 ・測定法 ・周辺環境の影響 ・主な吸収帯 ・赤外分光の構造敏感性 ・指紋領域の利用 ・系統解析 ・帰属の考え方 ・全反射法(ATR法) ・ATR法と検出深さ ・ATR法における注意点 ・In-situ FT-IR 【グロー放電分析(GD)】 【形態を知る】 【SEM、TEM】 ・表面形状と組成 ・SEM-EDS組成分析 ・試験前後の比較 ・SEM観察例 ・試料作製法の比較 【走査型プローブ顕微鏡(SPM)】 ・SPMとは ・主な走査型プローブ顕微鏡 ・形態観察におけるAFMの位置づけ ・観察例 ・位相イメージングの例 ・位相像 【界面分析】 実は非常に奥が深く、難易度が高い、しかし、安易に行われている界面分析の真の理解を得るためにその基本からテクニックまで実践ノウハウを解説します。 【界面評価の重要性と課題】 実例を交えながら、適切に界面分析を行い、正しいデータを得るための方法について解説します。 ・界面の例 ・界面の形成 ・界面の分類 ・界面における課題 ・界面分析の重要性 ・一般的深さ方向分析 ・従来法と問題点 ・化学増幅型レジストのD-SIMS分析 ・新しいアプローチ 【解析の実例】 実際の解析例を用いて、表面分析、界面分析の実務について解説します。 ・【UV照射による化学構造の評価】 ・【表面構造変化の解析(XPS)】 ・【気相化学修飾法】 ・【化学修飾法を用いたTOFイメージング】 ・【ポリイミドの表面処理層の深さ方向分析】 ・【PI/Cu/Si界面の解析】 【まとめ】と質疑 |
セミナー内容の一部がHP記載と変更になる場合があります。
ご相談、お問い合わせは、まずは下記までお気軽にお問い合わせ下さい
総合技術コンサルティング&人材育成
ジャパン・リサーチ・ラボ